ハーフブリッジ・トポロジでのSiCの動作

STDES-SICGP4リファレンス設計

STPOWER SiC MOSFETの高速で簡単な性能評価

STDES-SICGP4リファレンス設計では、ハーフブリッジ・トポロジに対応し、HiP247-4(4リード)パッケージに格納されたパワーSiC MOSFETのスイッチング性能と熱性能を評価できます。このMOSFETは、絶縁DC-DCコンバータから提供される絶縁型ゲート・ドライバで制御されます。

本設計には、ダブル・パルス・テスト(DPT)環境を実装したり、降圧またはブースト設定でのSiC動作を試したりするために必要な要素が含まれています。最終製品には、外部インダクタ、電源、負荷、補助電源、PWM信号などが必要です。ボードには、外部同軸シャント・コネクタが付属しています。

主な機能

  • HiP247-4パッケージで提供される、パワーSiC MOSFETと統合されたハーフブリッジ構造
  • SiC MOSFET向けに最適化された、STGAP2HSガルバニック絶縁ゲート・ドライバで駆動するハーフブリッジ
  • L6986Iをベースとして、絶縁フライバック・コンバータから電源を供給される絶縁ゲート・ドライバ
  • 絶縁ゲート・ドライバの出力ステージ向けに事前設定された+18V/-3V電源電圧
  • 特定のゲート電圧、正負レベルを設定可能
  • ゲート抵抗を設定可能
  • 低インダクタンス・センス抵抗
  • より高いバンド幅の電流測定を実現する同軸シャント抵抗に対応
  • 1kVの最大DC I/O電圧
  • 69Aのピーク入力電流レベル(期間:最大100μs)

アプリケーション例

産業用電源 産業用電源

 

関連情報

本書には、DPTを使用したスイッチング損失テストの例と、測定された波形、および最終的な計算値が記載されています。

 

STDES-SICGP4は、STのSiC MOSFETのハイスピード・スイッチング性能をテストするために開発されたテスト・プラットフォーム・リファレンス設計です。本プラットフォームは、HiP247-4パッケージに適したハーフブリッジ設定を実装します。

 

デジタル電源ガイドPDF

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